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代理銷售:HORIBA堀場(chǎng)橢圓偏振光譜儀、HITACHI日立科學(xué)儀器光譜儀、OTSUKA大塚電子、MIKASA勻膠機(jī)、yamada山田鹵素強(qiáng)光燈、KOFLOC小島流量計(jì)、REVOX光箱、日本SSD防靜電、HITACHI日立金屬流量計(jì)、SIBATA柴田科學(xué)、日本ULVAC愛發(fā)科泵、CEDAR思達(dá)扭力計(jì)、TORAY東麗氣體濃度計(jì)、KOSAKA小坂臺(tái)階儀、TOKYOKEISO東京計(jì)裝流量計(jì)、AND愛安德、RYUKI東京流機(jī)流量計(jì)、IMV愛睦威地震儀、TSUBOSAKA壺坂電機(jī)、MITAKA三鷹光器、日本KURABO倉(cāng)紡濃度計(jì).
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Otsuka大塚
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Otsuka大塚紫外分光輻射照度測(cè)量系統(tǒng) New
產(chǎn)品信息 特征 該檢測(cè)器 是一種高性能的分光光度計(jì) ,在光源測(cè)量、反射/透射...
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Otsuka大塚總光譜光通量測(cè)量系統(tǒng) HM/FM series
總光譜光通量測(cè)量系統(tǒng) HM/FM series 產(chǎn)品信息 特點(diǎn) 可處理高達(dá)2400mm的直管...
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Otsuka大塚紅外量子效率測(cè)量系統(tǒng)
產(chǎn)品信息 特殊長(zhǎng)度 可以測(cè)量0.01%或更低的單線態(tài)氧的產(chǎn)生量子產(chǎn)率。 單線態(tài)...
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Otsuka大塚高感度分光輻射亮度計(jì)
特點(diǎn): 采用具有高亮度和色度精度的光譜方法(衍射光柵), 0.005cd / m 2的...
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Otsuka大塚高速LED光學(xué)特性儀
產(chǎn)品信息 特 點(diǎn) 與產(chǎn)線的控制信號(hào)同步 通過光纖的自由的測(cè)試系統(tǒng) 實(shí)現(xiàn)*短2m...
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Otsuka大塚紫外分光配光測(cè)量系統(tǒng)
產(chǎn)品信息 特征 通過分光光度分布對(duì)紫外光進(jìn)行高精度測(cè)量 從配光上評(píng)估紫外光...
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Otsuka大塚紫外分光全光譜光測(cè)量系統(tǒng)
產(chǎn)品信息 特征 具有高靈敏度檢測(cè)器的寬測(cè)量范圍 具有紫外線自吸收校正的高精...
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Otsuka大塚高速相位差測(cè)量裝置
產(chǎn)品信息 特 點(diǎn) 可測(cè)從0nm開始的低(殘留)相位差 光軸檢出同時(shí)可高速測(cè)量相...
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Otsuka大塚小角激光散射儀
PP-1000小角激光散射儀,利用小角激光散射法(Small Angle Laser Scatterin...
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Otsuka大塚橢偏儀
產(chǎn)品信息 特點(diǎn) 可在紫外和可見(250至800nm)波長(zhǎng)區(qū)域中測(cè)量橢圓參數(shù) 可分析...
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Otsuka大塚nanoSAQLA
● nanoSAQLA是一臺(tái)通過動(dòng)態(tài)光散亂法(DLS法)測(cè)量粒徑(粒徑0.6nm~10um)的...
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Otsuka大塚液晶層間隙量測(cè)設(shè)備
產(chǎn)品信息 特 點(diǎn) 采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器 有可對(duì)應(yīng)各種尺寸的裝...
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Otsuka大塚彩色濾光片、光刻膠測(cè)量裝置
產(chǎn)品信息 特點(diǎn) 以透過光譜測(cè)量、色測(cè)量為代表,通過濃度測(cè)量、膜厚測(cè)量、反...
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Otsuka大塚ZETA電位·粒徑·分子量測(cè)系統(tǒng)
產(chǎn)品信息 特點(diǎn) 使用了*新型高感度APD,感度提升及縮短測(cè)量時(shí)間 通過測(cè)量自動(dòng)...
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Otsuka大塚量子效率測(cè)量系統(tǒng)
產(chǎn)品信息 特 點(diǎn) 測(cè)量精度高 可瞬間測(cè)量**量子效率(**量子收率) 可去除再激...
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Otsuka大塚膜厚儀
可攜帶至現(xiàn)場(chǎng)的手持式可測(cè)量0.1μm單位,具有形狀的樣品也可非破壞的測(cè)量,...
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Otsuka大塚線掃描膜厚儀
采用線掃描方式檢測(cè)整面薄膜 硬件軟件均為**設(shè)計(jì) 作為專業(yè)膜厚測(cè)定廠商,提...
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Otsuka大塚線掃描膜厚儀
產(chǎn)品信息 特點(diǎn) **高速高精度進(jìn)行薄膜等面內(nèi)膜厚不均一性檢測(cè) 硬件軟件均為*...
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Otsuka大塚膜厚檢測(cè)儀
產(chǎn)品信息 特 點(diǎn) 采用分光干涉法 搭載高精度FFT膜厚解析系統(tǒng)(** 第4834847號(hào)...
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Otsuka大塚Load Port對(duì)應(yīng)膜厚測(cè)量系統(tǒng)
產(chǎn)品信息 特點(diǎn) 支持集成到 Φ300mm EFEM 單元的備用端口 實(shí)現(xiàn)嵌入在晶片中的...
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